ZEISS蔡司 GOM ATOSQ 紧凑型三维光学扫描仪
品牌：ZEISS(蔡司)
型号：ATOS Q
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特性
创新的技术：
• 更快的测量轴
• X 轴定位速度高达 200 mm/s
• 轮廓测量速度是上代产品 Mar-Surf PCV 和 CD 120 的 25 倍
• 粗糙度测量是 GD 120 的 40 倍
• Z 轴全系标配全能型 CNC
• Z 轴速度是上代产品的两倍
• Z 轴速度是市面上标准机型的 5 倍
• 配备两套测头系统，以应对测量任务
• 轮廓测头系统 C 11
• 通过测杆内置的芯片识别测杆
• 标准长测杆量程 70 mm，使用490mm测杆最大实现 100 mm量程
• 磁性测杆支架，更换测针无需工具
• 测头系统耐用且灵活
• 选项：可在轮廓上评定粗糙度
• 粗糙度测头系统 BFW
• 磁性测杆支架，方便更换测针，同时对测量系统提供防护
• 测杆支架可灵活切换横向与纵向测量，无需工具或适配器
• 测量系统可拓展延伸
• 创新的工件固定系统
• 机器底座 390 x 430 mm，配备50 mm 孔间距的网格平台
• 测量台的网格孔设计以及 TY 向60 mm 的调节范围，无需额外的测量平台
• 较低的测量平台有利于缩短测量环路，对测量结果有积极意义
• MarSurf VD 系列— 补充 MarSurf系列：
• 可在粗糙度与轮廓测量之间灵活切换
• 操作员可根据测量任务更换测量表面粗糙度的 BFW 粗糙度测头系统，或测量轮廓的 C 11 轮廓测头系统(可热插拔)。新系统的优势是结合了高度灵活的 C 11轮廓测头系统和高精密 BFW 测头系统，特别适合精细表面
• 新测量站概念综合了速度、可靠性和灵活性
• 其目标是提高贵公司系统的利润
• 测量站使用用户友好的MarWin软件操作(MarWin Easy Roughn-ess & Contour 或 MarWin Profes-sional Roughness & Contour)
技术参数
| 订货号 | 6269020 | 6269021 | 6269022 | 6269023 | |
| 类型 | VD 140 | VD 280 | |||
| 测头 | 粗糙度测头系统（无导块） 轮廓测头系统 带粗糙度测头系统 | ||||
| 测量范围 | mm | 500 µm（±250 µm），用于 45 mm 测杆长度 1500 µm（±750 µm），用于 135 mm 测杆长度 带轮廓测头系统 70 mm，测杆长 350 mm 最高 100 mm，测杆长 490 mm | |||
| 扫描长度 | 0.1 mm 至 140 mm | 0.1 mm 至 280 mm | |||
| 测量力 | N | 带粗糙度测头系统： 0.7 mN 4 mN 至 30 mN，可通过软件调整 | |||
| 分辨率 | 带粗糙度测头系统： 测量范围 1：7.6 nm 测量范围 2：0.76 nm 带轮廓测头系统： 最高 6 nm（210 mm 测杆） | ||||
| 测量速度 | 0.02 mm/s 至 10 mm/s | ||||
| 定位速度 | X：0.02 mm/s 至 200 mm/s Z：0.02 mm/s 至 50 mm/s | ||||
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