GIN精展平面平晶55155/GOF
 
   

GIN精展平面平晶55155/GOF

通过平面平晶的干涉条纹图案可对测量表面的平面度进行检测。呈圆环形,其中一个表面精确抛光,可用于检测量块、压板基准面、千分尺测量面或其它任何高反射率的平坦表面的平面度。

平晶是利用光波干涉现象测量平行度及平面度误差的,故其测量方法称为平晶干涉法,也称技术光波干涉法。通过平面平晶的干涉条纹图案可对测量表面的平面度进行检测。呈圆环形,其中一个表面精确抛光,可用于检测量块、压板基准面、千分尺测量面或其它任何高反射率的平坦表面的平面度。



                                                                                                                                                                                                                                       单位:mm
订购编号
Order No.
规格明细直径厚度平行度平面度
55155-01单平面水晶φ45150.1μm
55155-02双平面水晶φ45150.1μm
55155-03单平面水晶φ45150.03μm
55155-04双平面水晶φ45150.03μm
55155-05单平面水晶φ50200.03μm
55155-06双平面水晶φ50200.03μm
55155-07单平面水晶φ60200.03μm
55155-08双平面水晶φ60200.03μm
55155-09单平面水晶φ75200.03μm
55155-10双平面水晶φ75200.03μm