| 系统概述 | |||||
| 工作模式 | 高精度模式 | ||||
| 测量原理 | X射线锥束CT | ||||
| 传感器技术 | 平板探测器 | ||||
| 软件 | 操作系统: ZEISS METROTOM OS | ||||
| 应用 | 分析软件: ZEISS CALYPSO，VGStudio MAX | ||||
| 射线及传感器技术 | |||||
| ZEISS METROTOM | 单位KV | 800/130 kV | 800/225 kV | 1500/225 kV | |
| 微焦点X射线管 | 最大管电压 | KV | 130 | 225 | 225 |
| 最大管电流 | μA | 300 | 3000 | 3000 | |
| 最大目标功率 | W | 39 | 500 | 500 | |
| 最小焦点尺寸 | mm | 0.005 | 0.007 | 0.007 | |
| 平板探测器 | 像素数 | 1536x1920 | 1024x1024 | 2048x2048 | |
| 像素尺寸 | μm | 127x127 | 200x200 | 200x200 |
| 分辨率( I SO 15708) 2) | 单位 | 800/130 kV | 800/225 kV | 1500/225 kV | |
| 最大空间分辨率，调辐度传递10% | μm | 3.5 (143 lp/mm 3) | 6.0 (83 lp/mm 3) | 4.0 (125 lp/mm 3) | |
| 精度 (MPE 符合 VDI/VDE 2630 sheet 1.3) 4) | 单位 | 800/130 kV | 800/225 kV | 1500/225 kV | |
| 球心距误差 | SD (TS) | μm | 2.9+L/100 | 4.0+L/100 | 4.5+L/50 |
| 探测误差 | PS (TS) | μm | 3 | 3 | 3 |
| PF (TS) | μm | 4 | 4 | 4 | |
| 长度测量误差 5) | E (TS) | μm | 6.9+L/100 | 8+L/100 | 9+L/50 |
| 测量范围 | 单位 | 800/130 kV | 800/225 kV | 1500/225 kV | ||
| A) 无图像区域扩展的成像体积 | 纵向 （标准 ） |
横向 | ||||
| 最大直径 | mm | 150 | 170 | 170 | 305 | |
| 最大高度 | mm | 170 | 115 | 150 | 260 | |
| B) 启用最大垂直图像区域 扩展 | 最大直径 | mm | 150 | 170 | 170 | 305 |
| 最大高度 | mm | 360 | 360 | 405 | 655 | |
| C) 启用最大垂直及水平图像 | 最大直径 | mm | 275 | 300 | 300 | 570 |
| 区域扩展(可选) | 最大高度 | mm | 360 | 360 | 390 | 550 |
如何在不牺牲最大产量的前提下，可靠地检测部件内部的缺陷？使用蔡司工业CT METROTOM 800 225kV HR工业电脑断层扫描就可以做到这一点，它是第一个完集成到生产线上的同级产品，可以提升最快的100%检测速度。
1.高吞吐量
在不到 60 秒的时间内，可以使用X射线断层扫描仪的扫描组件。 这保证了生产线的高产量。
2.巧妙的设计
通过减少装载和卸载时间提高吞吐量！蔡司工业CT的直通概念可实现快速加载。 因此，停机时间减少到最低限度，从而允许更高的吞吐量。
3.充分的灵活性
用于容纳各种组件的可单独配置的系统具有可适应您的生产环境的传送带。
4.空间要求低
由于蔡司工业CT METROTOM 800 225kV HR工业电脑断层扫描占地面积小，系统可以非常灵活地定位。 通过这种方式，您可以通过有效利用生产中的宝贵空间来降低拥有成本。
用于质量保证的三维X射线测量技术
ZEISS METROTOM
产品技术
●大幅节省操作准备时间80%以上起
●全新外观设计、用户界面及软件功能
●不占用机器的预调 >确保机器100%的使用率
●实现托盘上方工件的简捷调整
●模拟仿真满足水平扩展(VHD虚拟水平探测器扩展)扫描的预调要求(Y轴向)
●满足自动垂直扩展 (Volume merge体积合并)扫描的预调要求Z轴向)
●整体测量范围记录、 体素显示及参数设置报告输出
●避免错误操作及优化测量精准性
● 设计柔性简便、适用于所有蔡司CT产品
●延长射线管寿命 避免工件机内调整时的频繁启停)
●竞争对手无相对应产品
●提升测量操作效能及成本节省
整体部件的三段扫描及自动合并实现高分辨率数据集: Volume Merge体积合并
满足超过探测器尺寸样品的扫描应用: VHD虚拟水平探测器扩展
结合大功率射线管及散射校正(SRC) 的AMMAR高级复合材料仿影缩减
提升复合材料图像质量
侧重于两种材料的应用，例如涟接器
更多塑料部位细节信息
改善缺陷分析质量
更清晰的材料边界
更均匀的材料灰度值
软件版本: METROTOM OS 3.2或以上
自动分离及自动评定每个子体积数据: Separation 自动分离
●一次扫描多个样品，操作简捷
●自动为每个样品创建体积数据
●缩喊每个样品的扫描时间
使用蔡司METROTOM轻松进行测量
测量与检验整体部件
蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统，用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
轻松且精准地进行多样化特征检测
利用蔡司METROTOM计算机断层扫描系统可一-次扫描海量的零层扫描系统可一-次扫描海量的零确，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，蔡司METROTOM获取海量测量点时，时间显著缩短。
应用及客户案例更新
塑料制品尺寸及形位公差高精度坐标测量应用实例
动力电池领域的CT应用
应用实例更新
增材制造领域的CT应用
应用实例更新
产品技术更新
增值软件系列
