 | Mitutoyo三丰平面平晶158系列用于检测测量面的平面度。 |
 | Mitutoyo三丰平行平晶157系列用于对千分尺测量面的平行度和平面度进行检测。 |
 | GIN精展平面平晶55155/GOF通过平面平晶的干涉条纹图案可对测量表面的平面度进行检测。呈圆环形，其中一个表面精确抛光，可用于检测量块、压板基准面、千分尺测量面或其它任何高反射率的平坦表面的平面度。 |
 | GIN精展平行平晶55150/GOP平晶是利用光波干涉现象测量平行度及平面度误差的，故其测量方法称为平晶干涉法，也称技术光波干涉法。借助于平行平晶产生的干涉条纹图案可对测量表面的平行度进行检测。 |
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