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ZEISS METROTOM 1工业CT无损检测隐蔽缺陷内部结构检测

[原创内容] 发布于:2023-02-15 09:05:46 阅读:500次 编辑:思诚市场部

zeiss metrotom 1主要应用于:无损检测,一个扫描多个工件,检测功能:测量内部和外部结构尺寸,检查内部缺陷。ZEISS METROTOM 1主要应用于:无损检测,一次扫描多个工件,检测功能:测量内部和外部结构尺寸,检查内部缺陷。

 


1、可快速、全面、可重复及精准的三维数据


ZEISS metrotom 1工业ct无损检测隐蔽缺陷内部结构检测


2、相比三坐标测量仪、光学、超声检测更高效


一次扫描 – 全面确定无疑:测量、分析及检测无法以常规仪器探测的隐藏缺陷及内部结构;
借助X射线,您可无损切剖及洞悉内在;
无需复杂装夹,节省时间及成本;
通过对所有内外结构进行计算机断层扫描成像(CT),即便无CAD模型也可重新复制工件。


ZEISS metrotom 1工业ct无损检测隐蔽缺陷内部结构检测


3、洞悉您所有的工件尺寸 即便隐藏部分


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4、简易操作对于高效流程至关重要


可面向车间场景及用户使用

包括:
全合一软件方案
直观的用户界面
自动参数确认
测量空间的数字化设置

简易操作可覆盖研发至生产等多样化作业且确保灵活性


ZEISS metrotom 1工业ct无损检测隐蔽缺陷内部结构检测


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标题:ZEISS METROTOM 1工业CT无损检测隐蔽缺陷内部结构检测     本文地址:https://www.sczy.com/article-2349.html
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