自营蔡司_ZEISS倒置金相显微镜Axio Vert.A1

　　Axio Vert.A1是一款结构紧凑、大视场观察的倒置显微镜。可用于检测大而重试样，广泛使用先进的反差技术。反射光下,具有明场、ADF高级暗场、偏光、DIC、C-DIC、荧光对比模块。透射光下，具有明场、偏光和相对比模块。Axio Vert.A1可满足您选择最佳的观察方式,或者您还可以同时选择几种不同观察方式以获得最多的样品信息。

　　5孔物镜转盘,并带有自动位置编码功能。光路管理器用于保存、恢复和调取光强值。您可以有效量化组织结构,并鉴定您所观察样品的特性。这可有效指导产品生产及用于质量控制。

　　多物镜快速成像

　　您需要各种不同的物镜来满足您对样品的观察。带有自动位置编码功能的Axio Vert.A1的5孔物镜转盘可帮助您选择最佳的放大倍数。编码功能可自动识别出您所选择的物镜,为您节省时间，消除误差。

　　反差对比方法,显示所有细节信息

　　Axio vert.A1具有所有普遍的对比度方法:4位功能转盘可实现反射光明场、ADF高级暗场、偏光、DIC、C-DIC、荧光对比快速、简捷的转换,检测各向异性材料如镁和铝。转换到透射光照明，可使用明场、偏光或相对比功能。

　　可重复的测量和对比

　　23视场数保证您第一眼就能观察到样品的全貌。十字线测微尺及晶粒度评级板可用于测量和计数。另外，Carl Zeiss 的AxioVision软件会为您提供强大的分析模块，如晶粒度分析、相分析、层厚分析等。

先进的技术

Eco安全模式

　　在Eco模式下，当您停止使用显微镜的时间超过15分钟时，设备就会自动关闭。这样可延长显微镜的使用寿命并节约能源。您也可以关闭Eco模式，切换到连续操作模式。

USB接口增强设备可靠性

　　由于Axio Vert.A1直接与计算机连接,您可以在获取数据的同时继续工作。连接显微镜的计算机,标准配置就可以一—不需额外的驱动程序。

Axio Vert. A1实际应用

　　利用反射光明场相衬法分析蚀刻表面的微观结构。晶界鉴定、颗粒大小检测、相和组成成分鉴定。见下图的染色部分。还可检测杂质和组成成分，如蚀刻前铸铁中的石墨。

　　反射光暗场下,检测机械表面的断层带,如裂纹、气孔、夹杂物、划痕。您可精确检测加工产品的表面质量,轻松检测出切片的晶界。

　　利用偏振衬度分析各向异性材料的组织结构,如镁、铝、铜和黄铜。在偏光下,晶格取向会显示出它们的特征色。

　　微分干涉对比(DIC)方法可探测微小的结构差异、高度差异,无论是自然原因还是人工原因所形成的差异,都会以3D形貌图像显示出来，并有一种浮雕结构感。

技术参数:

操作数据:

环境条件